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簡要描述：VIEW Summit 系統(tǒng)專為需要大工作范圍和高精度的組件而設(shè)計?；谂cVIEW Pinnacle相同的光學(xué)、高速線性電機和高分辨率光柵尺的核心技術(shù)，Summit采用固定橋設(shè)計。獨立的 X 軸和 Y 軸運動系統(tǒng)可確保既不會影響另一個的機械完整性，同時還能輕松裝卸大型零件。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-05-14訪 問 量：868產(chǎn)品分類
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| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
VIEW Summit 系統(tǒng)專為需要大工作范圍和高精度的組件而設(shè)計?；谂cVIEW Pinnacle相同的光學(xué)、高速線性電機和高分辨率光柵尺的核心技術(shù)，Summit采用固定橋設(shè)計。獨立的 X 軸和 Y 軸運動系統(tǒng)可確保既不會影響另一個的機械完整性，同時還能輕松裝卸大型零件。
VIEW Summit 提供三種行程范圍，非常適合測量大尺寸零件，例如 PCB、模板、平板顯示器、蝕刻片和標記圖案，或嵌套的小零件組。 Summit 為車間流程監(jiān)控和質(zhì)量保證應(yīng)用提供了非常高的準確性和高速性。
Summit 系統(tǒng)非常適合測量需要高精度的大幅面零件，例如焊膏模板和絲網(wǎng)、藝術(shù)品、面板印刷電路板、柔性電路和微蝕刻零件。
Summit 型號可配備可選的直通鏡頭或偏移安裝的激光器，以增加 Z 軸測量的靈活性。 Summit 型號還可以利用可選的 SpectraProbe™ 提供亞微米 Z 軸測量分辨率。
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